سرعت تشخیص اتیسم با توالی یابی ژنتیکی
آذر ۱۸, ۱۳۹۶
گزارش پنل دوم همایش بین المللی اتیسم
آذر ۱۸, ۱۳۹۶

گزارش برگزاری نخستین پنل تخصصی در همایش بین المللی اتیسم

 

در روز نخست سومین همایش بین المللی اتیسم، پانل تحقیقات مولکولی – علوم پایه و ژنتیک برگزار شد.

به گزارش خبرنگار خاص پرس، در این پانل که دکتر سیدمحمدحسین قادریان اداره آن را برعهده داشت، دکتر استفن شرمن با موضوع به کار بردن اختلالات ژنتیکی با

افزایش خطر ابتلا به اتیسم برای شناسایی ژن های حساس مرتبط سخن گفت.

همچنین دکتر پل هاگرمن، اختلالات عصبی بزرگسالی در میان حامل های x شکننده را تشریح کرد، دکتر فلورا تاسون درباره سندرم x شکننده و اختلالات مرتبط با آن

سخن گفت و در پایان، دکتر زهرا فاضلی عطار، جایگاه تشخیص های ژنتیکی مبتنی بر next generation sequencing را مورد ارزیابی قرار داد.

گفتنی است سومین همایش بین المللی اتیسم به همت بنیاد امور بیماری های خاص با هدف بررسی آخرین دستاوردهای جهانی اختلالات طیف اتیسم و هم اندیشی و

تبادل اطلاعات بین دانشمندان ایرانی و خارجی فعال در این حوزه از صبح شنبه ۱۸ آذرماه درحال برگزاری است و تا عصر یکشنبه ۱۹ آذر ادامه خواهد داشت.

 

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *